上海市社区居民糖调节受损流行特点影响因素的logistic回归

更新时间:2023-12-24 作者:用户投稿原创标记本站原创 点赞:20662 浏览:86835

摘 要 : [目的]调查上海市社区居民糖调节受损的流行病学特征,探讨糖耐量受损(IGT)、空腹血糖受损(IFG)的危险因素.[方法).对上海市13 495人展开IGT和IFC流行病学调查,适用单因素和多因素非条件logistic回归分析,探讨影响IGT、IFG发生的危险因素.[结果] ICT、IFG患病率为6.95%、1.75%(世界人口标化率为4.42%、1.03%),随着年龄的增加,IGT、IFG患病率逐步升高;进入多因素非条件logistic回归模型的因素有年龄、超重、肥胖、腰臀比(WHR)、三酰甘油(TG)、高血压、糖尿病家族史(P<0.05或P<0.01).[结论]糖调节受损具有高龄群体高患病的增龄特点;年龄、超重、肥胖、WHR、TC、高血压、糖尿病家族史为糖调节受损的主要危险因素.


关 键 词 :ICT;IFC;Logistic回归分析;患病率

文章编号:1006-3617(2006)02-0122-03

中图分类号:R181.3+8

文献标识码:A