本站原创单粒子效应（single event effect, SEE）是指宇宙空间中单个高能粒子入射半导体器件时产生大量的电子空穴对,这些电子空穴对能够被半导体器件敏感的反偏PN结所收集,从而使电路逻辑状态发生翻转、存储数据发生随机改变或者造成器件本身永久性损伤的一种电离辐射效应.
随着电子元件小型化的发展,电子元件对辐射环境更加敏感.本书介绍了单粒子效应的基本概念,讨论了宇宙空间和大气层中的辐射环境、不同轨道辐射率的预测和单粒子事件的预测.其中,不同轨道辐射率的预测能够帮助电子工程师设计和选择耐辐射的组件和系统.
全书由17章组成：1.单粒子效应的背景知识并对单粒子效应实验进行了简要分析；2.单粒子效应分析和预测的基础；3.用于分析单粒子效应的优化重离子实验；4.优化质子测试实验；5.主要对实验数据进行了分类和解释；6.各种类型的单粒子翻转数据；7.宇宙线引发的单粒子事件发生率的计算问题；8.质子引发的单粒子事件发生率的计算问题；9.航空电子设备上的中子翻转事件；10.重离子核反应现象及其诱发的粒子翻转；11.对重离子样品翻转率的预测；12.对质子样品翻转率的预测；13.不同空间环境条件下的粒子翻转率；14.太阳事件和极端情况下的样品采样实验；15.中粒子束环境的特征及此环境中粒子的翻转率；16.对空间环境中单粒子翻转率的预测和观察；17.积分长方体方法的局限性.
本书作者Edward Petersen在1969年至1993年工作于美国海军研究实验室,从那以后,他便担任顾问.他的研究内容主要集中于评估卫星系统中的粒子翻转率,其现有工作已表明空间粒子翻转率的测量结果与基于实验室实验的预测结果相一致.他撰写或合作撰写了60篇关于辐射效应的论文,其中大部分论文的主题是单粒子效应.
本书内容丰富,层次分明,可作为空间探测技术、空间物理学等领域的研究生和科研人员及电子设计工程师很好的参考书.
郑耀昕,硕士研究生
（中国科学院空间科学与应用研究中心）